IC测试针在测试冶具中有什么作用？

1、增强耐用度
IC测试bai冶具测试针设计使弹簧空间比du传统探针zhi要大，因而可以达到更长的寿命和dao容纳更强的弹力。
　　
2、独有的永不间断电接触设计
行程超过或不足2/3其电性接触皆能保持性低阻值，彻底消除任何因探针导致的假性开路误叛。
　　
3、至目标测点精准度误差更严谨
IC测试冶具的测试针能达到同类型产品无法比拟的至目标测点精准度。
　　
IC测试冶具通用性高，只需更换颗粒限位框，即可测试尺寸不同的颗粒；采用超短进口双头探针设计，相比同类测试产品，可使IC和PCB之间的数据传输距离更短，从而保证测试结果更稳定，频率更高，DDR3系列最高频率可达2000MHz。