常用的测试探针是由针头、外管和弹簧三个组件构成,由于探针在应用中十分注重它的导电性、持久性和硬度等特性的强弱,所以在制造过程中电镀是非常重要的一环。在组装之前要对这些部分做特殊的电镀处理,这样才能组装出一根电学参数达标的探针。 对于探针的镀金也是有讲究的,针管的整个部分都是需要镀金的,包括内壁和外...
测试探针是ICT/FCT测试针、BGA探针、高频探针、高电流探针的统一的叫法,无论什么探针都会有自己的寿命,探针的图册上一般都有自己的寿命,这个主要取决于弹簧的寿命。那么影响测试探针寿命的因素都有哪些呢?这里笔者为大家简要介绍一下,影响测试探针寿命的因素。 先说常规ICT/FCT探针,这类探针通常...
1、增强耐用度 IC测试bai冶具测试针设计使弹簧空间比du传统探针zhi要大,因而可以达到更长的寿命和dao容纳更强的弹力。 2、独有的永不间断电接触设计 行程超过或不足2/3其电性接触皆能保持性低阻值,彻底消除任何因探针导致的假性开路误叛。 3、至目标测点精准度误差更严谨 IC测试冶...
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